SDDとはSilicon Drift Detectorの略で、その構造の特徴は検出器の電界勾配を改善するためリング電極を設けていることです。それによって静電容量が大幅に減少し、漏れ電流の減少によるノイズ低減や電荷収集効率の向上が果たせ、結果としてエネルギー分解能が向上し、ピーク対バックグラウンド比が大きく改善されました。

AMPTEKのシリコンドリフト検出器（SDD）はペルチェ電子冷却器を用いたシリコン半導体X線検出器で、液体窒素による冷却方式を用いたSi（Li）半導体検出器に匹敵するエネルギー分解能を持っています。

特に2010年から販売が開始されたSDD検出器は、結晶サイズが25mm2の大面積と500μmの厚さで、高計数率における分解能が更に向上しました。そのため、これを用いると蛍光X線分析器などの性能をこれまで以上に向上させることができます。

AMPTEKのSDD検出器には二つのタイプがあり、DSPや高圧電源、MCAまで一体化して手のひらサイズに凝縮した「SDD X-123SDD」と、「SDD XR-100SDD」検出器+「PX5」デジタルパルスプロセッサの分離型の、いずれかから選択できます。

いずれもペルチエ電子冷却された検出器で、冷却器には初段FETとフィードバック回路もマウントされています。冷却温度はPCからUSB経由で制御でき室温より約80℃低い温度に設定が可能です。また実際に冷却された温度はセンサーによってモニターすることができます。

検出器の入射窓には厚さ0.5mil（12.7μm）の薄いBe窓が採用され、内部は真空に保たれているため低いエネルギーのX線も高い透過率で検出器へ到達できます。

なお詳しい性能については英文カタログをご覧ください。